試驗目的：確定紅外探測器在高溫環(huán)境條件下使用、貯存及運輸?shù)倪m應性。
試驗方法：高溫貯存試驗、高溫工作性能試驗、溫度突變試驗、溫度漸變試驗

溫度影響引起裝備的故障占各種環(huán)境因素引起故障的40%，因此研究溫度對產(chǎn)品（裝備）的影響尤其重要。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種紅外探測器的環(huán)境試驗能力，為紅外探測器產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗、高溫試驗、溫度變化試驗等環(huán)境試驗服務。

GB/T 15430-1995 紅外探測器環(huán)境試驗方法
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種紅外探測器的環(huán)境試驗能力，為紅外探測器產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗、高溫試驗、溫度變化試驗等環(huán)境試驗服務。

試驗目的：使試驗樣品通過在高低溫環(huán)境的交替暴露中，經(jīng)受氣溫迅速變化的影響，以確定其對貯存運輸期間可能遇到的溫度變化的適應性。
試驗方法：具有規(guī)定轉換時間的溫度變化試驗、具有規(guī)定溫度變化率的溫度變化試驗。

試驗目的：確定紅外探測器在低溫環(huán)境條件下使用、貯存及運輸?shù)倪m應性。
試驗方法：低溫貯存試驗、低溫工作性能試驗、溫度突變試驗、溫度漸變試驗